Mikroskop Metalurgi Tegak Penelitian BS-6024TRF

Mikroskop metalurgi tegak seri BS-6024 telah dikembangkan untuk penelitian dengan sejumlah desain perintis dalam penampilan dan fungsi, dengan bidang pandang luas, definisi tinggi dan tujuan metalurgi semi-apokromatik bidang terang/gelap dan sistem operasi ergonomis, mereka dilahirkan untuk memberikan solusi penelitian yang sempurna dan mengembangkan pola baru bidang industri.


Rincian produk

Unduh

Kontrol kualitas

Label Produk

22=BS-6024 Penelitian Mikroskop Metalurgi Tegak

BS-6024TRF

Perkenalan

Mikroskop metalurgi tegak seri BS-6024 telah dikembangkan untuk penelitian dengan sejumlah desain perintis dalam penampilan dan fungsi, dengan bidang pandang luas, definisi tinggi dan tujuan metalurgi semi-apokromatik bidang terang/gelap dan sistem operasi ergonomis, mereka dilahirkan untuk memberikan solusi penelitian yang sempurna dan mengembangkan pola baru bidang industri.

Fitur

1. Sistem Optik Tak Terbatas yang Sangat Baik.
Dengan sistem optik tak terbatas yang luar biasa, mikroskop metalurgi tegak seri BS-6024 memberikan gambar beresolusi tinggi, definisi tinggi, dan aberasi kromatik yang dikoreksi yang dapat menampilkan detail spesimen Anda dengan sangat baik.
2. Desain Modular.
Mikroskop seri BS-6024 telah dirancang dengan modularitas untuk memenuhi berbagai aplikasi industri dan ilmu material.Ini memberi pengguna fleksibilitas untuk membangun sistem untuk kebutuhan spesifik.
3. Fungsi ECO.
Lampu mikroskop akan mati secara otomatis setelah 15 menit sejak operator berangkat.Ini tidak hanya menghemat energi, tetapi juga menghemat masa pakai lampu.

666

4. Nyaman dan Mudah Digunakan.

77

(1) Tujuan Semi-APO dan APO Rencana Tak Terbatas NIS45.
Dengan kaca transparan tinggi dan teknologi pelapisan canggih, lensa objektif NIS45 dapat memberikan gambar beresolusi tinggi dan secara akurat mereproduksi warna alami spesimen.Untuk aplikasi khusus, tersedia beragam tujuan, termasuk polarisasi dan jarak kerja yang jauh.

33=BS-6024 Kit DIC Mikroskop Metalurgi Tegak Penelitian

(2) DIC Nomarski.
Dengan modul DIC yang baru dirancang, perbedaan ketinggian suatu spesimen yang tidak dapat dideteksi dengan medan terang menjadi gambar seperti relief atau gambar 3D.Ini sangat ideal untuk pengamatan partikel penghantar LCD dan goresan permukaan hard-disk dll.

44=BS-6024 Penelitian Fokus Mikroskop Metalurgi Tegak

(3) Sistem Fokus.
Agar sistem sesuai dengan kebiasaan pengoperasian operator, kenop pemfokusan dan stage dapat disesuaikan ke sisi kiri atau kanan.Desain ini membuat pengoperasian lebih nyaman.

55=BS-6024 Kepala Penelitian Mikroskop Metalurgi Tegak

(4) Ergo Memiringkan Kepala Trinokuler.
Tabung lensa mata dapat disesuaikan dari 0 ° hingga 35 °, Tabung trinokular dapat dihubungkan ke kamera DSLR dan kamera digital, memiliki pembagi sinar 3 posisi (0:100, 100:0, 80:20), bilah pembagi dapat dirakit di kedua sisi sesuai dengan kebutuhan pengguna.

5. Berbagai Metode Observasi.

562
反对法

Medan Gelap (Wafer)
Darkfield memungkinkan pengamatan cahaya yang tersebar atau terdifraksi dari spesimen.Apa pun yang tidak datar memantulkan cahaya ini, sedangkan apa pun yang datar tampak gelap sehingga ketidaksempurnaan terlihat jelas.Pengguna dapat mengidentifikasi keberadaan goresan atau cacat sekecil apa pun hingga tingkat 8nm—lebih kecil dari batas daya penyelesaian mikroskop optik.Darkfield sangat ideal untuk mendeteksi goresan kecil atau cacat pada spesimen dan memeriksa spesimen permukaan cermin, termasuk wafer.

Kontras Interferensi Diferensial (Partikel Penghantar)
DIC adalah teknik pengamatan mikroskopis di mana perbedaan ketinggian suatu spesimen yang tidak dapat dideteksi dengan medan terang menjadi gambar seperti relief atau gambar tiga dimensi dengan kontras yang ditingkatkan.Teknik ini menggunakan cahaya terpolarisasi dan dapat disesuaikan dengan tiga pilihan prisma yang dirancang khusus.Ini ideal untuk memeriksa spesimen dengan perbedaan ketinggian yang sangat kecil, termasuk struktur metalurgi, mineral, kepala magnet, media hard-disk, dan permukaan wafer yang dipoles.

1235
驱动器

Observasi Cahaya yang Ditransmisikan (LCD)
Untuk spesimen transparan seperti LCD, plastik, dan bahan kaca, pengamatan cahaya yang ditransmisikan dapat dilakukan dengan menggunakan berbagai kondensor.Pemeriksaan spesimen dalam medan terang yang ditransmisikan dan cahaya terpolarisasi dapat dilakukan semuanya dalam satu sistem yang mudah digunakan.

Cahaya Terpolarisasi (Asbes)
Teknik pengamatan mikroskopis ini memanfaatkan cahaya terpolarisasi yang dihasilkan oleh seperangkat filter (analyzer dan polarizer).Karakteristik sampel secara langsung mempengaruhi intensitas cahaya yang dipantulkan melalui sistem.Sangat cocok untuk struktur metalurgi (yaitu, pola pertumbuhan grafit pada besi cor nodular), mineral, LCD dan bahan semikonduktor.

Aplikasi

Mikroskop seri BS-6024 banyak digunakan di institut dan laboratorium untuk mengamati dan mengidentifikasi struktur berbagai logam dan paduan, juga dapat digunakan dalam industri elektronik, kimia dan semikonduktor, seperti wafer, keramik, sirkuit terpadu, chip elektronik, cetakan papan sirkuit, panel LCD, film, bubuk, toner, kawat, serat, pelapis berlapis, bahan non-logam lainnya dan sebagainya.

Spesifikasi

Barang

Spesifikasi

BS-6024RF

BS-6024TRF

Sistem Optik Sistem Optik Koreksi Warna Tak Terbatas NIS45 (Panjang Tabung: 200mm)

Melihat Kepala Ergo Tilting Trinocular Head, dapat disesuaikan kemiringan 0-35°, jarak antar pupil 47mm-78mm;rasio pemisahan Lensa Mata: Trinocular = 100:0 atau 20:80 atau 0:100

Kepala Trinocular Seidentopf, miring 30°, jarak antar pupil: 47mm-78mm;rasio pemisahan Lensa Mata: Trinocular = 100:0 atau 20:80 atau 0:100

Kepala Teropong Seidentopf, miring 30°, jarak antar pupil: 47mm-78mm

Lensa mata Lensa mata denah lapangan Super lebar SW10X/25mm, diopter dapat disesuaikan

Lensa mata denah lapangan Super lebar SW10X/22mm, diopter dapat disesuaikan

Lensa mata bidang ekstra lebar EW12,5X/16mm, diopter dapat disesuaikan

Lensa mata bidang lebar WF15X/16mm, diopter dapat disesuaikan

Lensa mata bidang lebar WF20X/12mm, diopter dapat disesuaikan

Objektif Tujuan Semi-APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS45 (BF & DF) 5X/NA=0,15, WD=20mm

10X/NA=0,3, WD=11mm

20X/NA=0,45, WD=3,0mm

Tujuan APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS45 (BF & DF) 50X/NA=0,8, WD=1,0mm

100X/NA=0,9, WD=1,0mm

Tujuan Semi-APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS60 (BF) 5X/NA=0,15, WD=20mm

10X/NA=0,3, WD=11mm

20X/NA=0,45, WD=3,0mm

Tujuan APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS60 (BF) 50X/NA=0,8, WD=1,0mm

100X/NA=0,9, WD=1,0mm

penutup hidung

 

Nosepiece Sextuple Mundur (dengan slot DIC)

Kondensator Kondensor LWD NA0.65

Iluminasi yang Ditransmisikan Lampu halogen 24V/100W, penerangan Kohler, dengan filter ND6/ND25

Lampu S-LED 3W, prasetel tengah, intensitas dapat disesuaikan

Iluminasi yang Dipantulkan Cahaya pantulan Lampu halogen 24V/100W, penerangan Koehler, dengan menara 6 posisi

Rumah lampu halogen 100W

Cahaya pantulan dengan lampu LED 5W, iluminasi Koehler, dengan turret 6 posisi

Modul bidang terang BF1

Modul bidang terang BF2

Modul medan gelap DF

Filter ND6, ND25 bawaan, dan filter koreksi warna

Fungsi ECO Fungsi ECO dengan tombol ECO

Fokus Pemfokusan kasar dan halus koaksial posisi rendah, pembagian halus 1μm, Rentang pergerakan 35mm

Maks.Tinggi Spesimen 76mm

56mm

Panggung Tahap mekanis lapisan ganda, ukuran 210mmX170mm;rentang bergerak 105mmX105mm (Pegangan kanan atau kiri);presisi: 1mm;dengan permukaan teroksidasi yang keras untuk mencegah abrasi, arah Y dapat dikunci

Tempat wafer: dapat digunakan untuk menampung wafer berukuran 2”, 3”, 4”.

Perangkat DIC DIC Kit untuk pencahayaan yang dipantulkan (dapat digunakan untuk tujuan 10X, 20X, 50X, 100X)

Kit Polarisasi Polarizer untuk penerangan yang dipantulkan

Penganalisis untuk penerangan yang dipantulkan, 0-360°dapat diputar

Polarizer untuk penerangan yang ditransmisikan

Penganalisis untuk iluminasi yang ditransmisikan

Aksesori Lainnya Adaptor pemasangan C 0,5X

1X Adaptor C-mount

Penutup debu

Kabel listrik

Geser kalibrasi 0,01 mm

Penekan Spesimen

Catatan: ●Pakaian Standar, ○Opsional

Diagram Sistem

Diagram Sistem BS-6024
Diagram Sistem BS-6024-lensa mata
Diagram Sistem BS-6024-nosepiece
Diagram Sistem BS-6024-polarizer

Dimensi

Dimensi BS-6024RF

BS-6024RF

Dimensi BS-6024TRF

BS-6024TRF

Satuan: mm

Sertifikat

mhg

Logistik

gambar (3)

  • Sebelumnya:
  • Berikutnya:

  • Mikroskop Metalurgi Tegak Penelitian BS-6024

    gambar (1) gambar (2)

    Tulis pesan Anda di sini dan kirimkan kepada kami