Mikroskop Metalurgi Tegak Penelitian BS-6024TRF
BS-6024TRF
Perkenalan
Mikroskop metalurgi tegak seri BS-6024 telah dikembangkan untuk penelitian dengan sejumlah desain perintis dalam penampilan dan fungsi, dengan bidang pandang luas, definisi tinggi dan tujuan metalurgi semi-apokromatik bidang terang/gelap dan sistem operasi ergonomis, mereka dilahirkan untuk memberikan solusi penelitian yang sempurna dan mengembangkan pola baru bidang industri.
Fitur
1. Sistem Optik Tak Terbatas yang Sangat Baik.
Dengan sistem optik tak terbatas yang luar biasa, mikroskop metalurgi tegak seri BS-6024 memberikan gambar beresolusi tinggi, definisi tinggi, dan aberasi kromatik yang dikoreksi yang dapat menampilkan detail spesimen Anda dengan sangat baik.
2. Desain Modular.
Mikroskop seri BS-6024 telah dirancang dengan modularitas untuk memenuhi berbagai aplikasi industri dan ilmu material.Ini memberi pengguna fleksibilitas untuk membangun sistem untuk kebutuhan spesifik.
3. Fungsi ECO.
Lampu mikroskop akan mati secara otomatis setelah 15 menit sejak operator berangkat.Ini tidak hanya menghemat energi, tetapi juga menghemat masa pakai lampu.
4. Nyaman dan Mudah Digunakan.
(1) Tujuan Semi-APO dan APO Rencana Tak Terbatas NIS45.
Dengan kaca transparan tinggi dan teknologi pelapisan canggih, lensa objektif NIS45 dapat memberikan gambar beresolusi tinggi dan secara akurat mereproduksi warna alami spesimen.Untuk aplikasi khusus, tersedia beragam tujuan, termasuk polarisasi dan jarak kerja yang jauh.
(2) DIC Nomarski.
Dengan modul DIC yang baru dirancang, perbedaan ketinggian suatu spesimen yang tidak dapat dideteksi dengan medan terang menjadi gambar seperti relief atau gambar 3D.Ini sangat ideal untuk pengamatan partikel penghantar LCD dan goresan permukaan hard-disk dll.
(3) Sistem Fokus.
Agar sistem sesuai dengan kebiasaan pengoperasian operator, kenop pemfokusan dan stage dapat disesuaikan ke sisi kiri atau kanan.Desain ini membuat pengoperasian lebih nyaman.
(4) Ergo Memiringkan Kepala Trinokuler.
Tabung lensa mata dapat disesuaikan dari 0 ° hingga 35 °, Tabung trinokular dapat dihubungkan ke kamera DSLR dan kamera digital, memiliki pembagi sinar 3 posisi (0:100, 100:0, 80:20), bilah pembagi dapat dirakit di kedua sisi sesuai dengan kebutuhan pengguna.
5. Berbagai Metode Observasi.
Medan Gelap (Wafer)
Darkfield memungkinkan pengamatan cahaya yang tersebar atau terdifraksi dari spesimen.Apa pun yang tidak datar memantulkan cahaya ini, sedangkan apa pun yang datar tampak gelap sehingga ketidaksempurnaan terlihat jelas.Pengguna dapat mengidentifikasi keberadaan goresan atau cacat sekecil apa pun hingga tingkat 8nm—lebih kecil dari batas daya penyelesaian mikroskop optik.Darkfield sangat ideal untuk mendeteksi goresan kecil atau cacat pada spesimen dan memeriksa spesimen permukaan cermin, termasuk wafer.
Kontras Interferensi Diferensial (Partikel Penghantar)
DIC adalah teknik pengamatan mikroskopis di mana perbedaan ketinggian suatu spesimen yang tidak dapat dideteksi dengan medan terang menjadi gambar seperti relief atau gambar tiga dimensi dengan kontras yang ditingkatkan.Teknik ini menggunakan cahaya terpolarisasi dan dapat disesuaikan dengan tiga pilihan prisma yang dirancang khusus.Ini ideal untuk memeriksa spesimen dengan perbedaan ketinggian yang sangat kecil, termasuk struktur metalurgi, mineral, kepala magnet, media hard-disk, dan permukaan wafer yang dipoles.
Observasi Cahaya yang Ditransmisikan (LCD)
Untuk spesimen transparan seperti LCD, plastik, dan bahan kaca, pengamatan cahaya yang ditransmisikan dapat dilakukan dengan menggunakan berbagai kondensor.Pemeriksaan spesimen dalam medan terang yang ditransmisikan dan cahaya terpolarisasi dapat dilakukan semuanya dalam satu sistem yang mudah digunakan.
Cahaya Terpolarisasi (Asbes)
Teknik pengamatan mikroskopis ini memanfaatkan cahaya terpolarisasi yang dihasilkan oleh seperangkat filter (analyzer dan polarizer).Karakteristik sampel secara langsung mempengaruhi intensitas cahaya yang dipantulkan melalui sistem.Sangat cocok untuk struktur metalurgi (yaitu, pola pertumbuhan grafit pada besi cor nodular), mineral, LCD dan bahan semikonduktor.
Aplikasi
Mikroskop seri BS-6024 banyak digunakan di institut dan laboratorium untuk mengamati dan mengidentifikasi struktur berbagai logam dan paduan, juga dapat digunakan dalam industri elektronik, kimia dan semikonduktor, seperti wafer, keramik, sirkuit terpadu, chip elektronik, cetakan papan sirkuit, panel LCD, film, bubuk, toner, kawat, serat, pelapis berlapis, bahan non-logam lainnya dan sebagainya.
Spesifikasi
Barang | Spesifikasi | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
Sistem Optik | Sistem Optik Koreksi Warna Tak Terbatas NIS45 (Panjang Tabung: 200mm) | ● | ● | |
Melihat Kepala | Ergo Tilting Trinocular Head, dapat disesuaikan kemiringan 0-35°, jarak antar pupil 47mm-78mm;rasio pemisahan Lensa Mata: Trinocular = 100:0 atau 20:80 atau 0:100 | ● | ● | |
Kepala Trinocular Seidentopf, miring 30°, jarak antar pupil: 47mm-78mm;rasio pemisahan Lensa Mata: Trinocular = 100:0 atau 20:80 atau 0:100 | ○ | ○ | ||
Kepala Teropong Seidentopf, miring 30°, jarak antar pupil: 47mm-78mm | ○ | ○ | ||
Lensa mata | Lensa mata denah lapangan Super lebar SW10X/25mm, diopter dapat disesuaikan | ● | ● | |
Lensa mata denah lapangan Super lebar SW10X/22mm, diopter dapat disesuaikan | ○ | ○ | ||
Lensa mata bidang ekstra lebar EW12,5X/16mm, diopter dapat disesuaikan | ○ | ○ | ||
Lensa mata bidang lebar WF15X/16mm, diopter dapat disesuaikan | ○ | ○ | ||
Lensa mata bidang lebar WF20X/12mm, diopter dapat disesuaikan | ○ | ○ | ||
Objektif | Tujuan Semi-APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS45 (BF & DF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ● | ● |
10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
20X/NA=0,45, WD=3,0mm | ● | ● | ||
Tujuan APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS45 (BF & DF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0mm | ● | ● | |
100X/NA=0,9, WD=1,0mm | ● | ● | ||
Tujuan Semi-APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS60 (BF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ○ | ○ | |
10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
20X/NA=0,45, WD=3,0mm | ○ | ○ | ||
Tujuan APO Rencana LWD Tak Terbatas NIS60 (BF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0mm | ○ | ○ | |
100X/NA=0,9, WD=1,0mm | ○ | ○ | ||
penutup hidung
| Nosepiece Sextuple Mundur (dengan slot DIC) | ● | ● | |
Kondensator | Kondensor LWD NA0.65 | ○ | ● | |
Iluminasi yang Ditransmisikan | Lampu halogen 24V/100W, penerangan Kohler, dengan filter ND6/ND25 | ○ | ● | |
Lampu S-LED 3W, prasetel tengah, intensitas dapat disesuaikan | ○ | ○ | ||
Iluminasi yang Dipantulkan | Cahaya pantulan Lampu halogen 24V/100W, penerangan Koehler, dengan menara 6 posisi | ● | ● | |
Rumah lampu halogen 100W | ● | ● | ||
Cahaya pantulan dengan lampu LED 5W, iluminasi Koehler, dengan turret 6 posisi | ○ | ○ | ||
Modul bidang terang BF1 | ○ | ○ | ||
Modul bidang terang BF2 | ● | ● | ||
Modul medan gelap DF | ● | ● | ||
Filter ND6, ND25 bawaan, dan filter koreksi warna | ○ | ○ | ||
Fungsi ECO | Fungsi ECO dengan tombol ECO | ● | ● | |
Fokus | Pemfokusan kasar dan halus koaksial posisi rendah, pembagian halus 1μm, Rentang pergerakan 35mm | ● | ● | |
Maks.Tinggi Spesimen | 76mm | ● |
| |
56mm |
| ● | ||
Panggung | Tahap mekanis lapisan ganda, ukuran 210mmX170mm;rentang bergerak 105mmX105mm (Pegangan kanan atau kiri);presisi: 1mm;dengan permukaan teroksidasi yang keras untuk mencegah abrasi, arah Y dapat dikunci | ● | ● | |
Tempat wafer: dapat digunakan untuk menampung wafer berukuran 2”, 3”, 4”. | ○ | ○ | ||
Perangkat DIC | DIC Kit untuk pencahayaan yang dipantulkan (dapat digunakan untuk tujuan 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
Kit Polarisasi | Polarizer untuk penerangan yang dipantulkan | ○ | ○ | |
Penganalisis untuk penerangan yang dipantulkan, 0-360°dapat diputar | ○ | ○ | ||
Polarizer untuk penerangan yang ditransmisikan |
| ○ | ||
Penganalisis untuk iluminasi yang ditransmisikan |
| ○ | ||
Aksesori Lainnya | Adaptor pemasangan C 0,5X | ○ | ○ | |
1X Adaptor C-mount | ○ | ○ | ||
Penutup debu | ● | ● | ||
Kabel listrik | ● | ● | ||
Geser kalibrasi 0,01 mm | ○ | ○ | ||
Penekan Spesimen | ○ | ○ |
Catatan: ●Pakaian Standar, ○Opsional
Diagram Sistem
Dimensi
BS-6024RF
BS-6024TRF
Satuan: mm
Sertifikat
Logistik